•对长度不超过150 m的设备进行单次测量、全参数分析

•在不到3秒的时间内对无源器件进行quan面表征

•完全偏振响应

•单次扫描，同时测量完整的参数范围

--插入损耗（IL）

--偏振相关损耗

--偏振模色散（PMD）和二阶PMD

--色散（CD）

--组延迟（GD）

--光时域响应

--Jones矩阵元素

--光学相位响应

•高分辨率C和L波段（OVA 5000）或O波段（OVA 5013）能力

•实时测量

•用户友好界面

•分析平面光电路和硅光子器件

•表征光纤组件

•测量频谱响应和时延响应

•通过完整的传递函数改进设备模拟和模型

OVA 5100–OVA 5000的新外壳和名称

Luna OVA 5100本质上是一款OVA 5000，封装尺寸较小，并进行了一些内部更新，以提高其可制造性和长期可支持性。

在功能上，OVA 5100/5113系统是OVA 5000/5013的替代品，具有同等的功能、规格、功能和软件。

OVA 5000/5013的所有选项均适用于OVA 5100/5113，零件号不变。重要可能影响系统与客户应用程序集成的变化将是系统的物理尺寸和重量的减少。

维护OVA 5000和OVA 5013

OVA 5000和OVA 5013型号已进入维护模式，这意味着Luna将继续全力支持和服务这些系统，并遵守产品保修。

通过1次扫描，OVA 5000可以同时测量光子器件和子系统的完整传递函数。此屏幕显示IL和组延迟与波长的关系。

1.快速模式：无平均校准扫描，4次平均测量扫描，30 pm分辨率带宽，8 m设备长度（使用NIST认证的人工制品验证精度，IL除外）。高动态范围选项已启用。

2.平均模式：4次平均校准扫描，64次平均测量扫描，30 pm分辨率带宽，8 m设备长度（使用NIST认证的人工制品验证精度，IL除外）。高动态范围选项已启用。

3.由NIST内部可追踪的HCN气室保持精度。

IL、GD和PMD在“平均模式”下的4.80、60和50 dB动态范围已安装并启用“高动态范围”选项。

5.指出可以捕获的总设备脉冲响应持续时间。

6.根据每次扫描的组合激光扫描和分析时间计算的速率。

7.在快速模式（Fast Mode）：40 nm范围和平均模式（Average Mode）：2.5 nm范围内进行全规格测量（见注释4）。不包括校准时间。

单次扫描中的完整特征

OVA 5000quan面分析集成光子器件和子系统的光学特性，提供quan面的表征

一次扫描和一次连接。OVA 5000使用干涉测量法直接测量线性传递函数（Jones矩阵），并同时测量其在每个波长下的四个复数元素。根据该数据，

所有标准线性参数测量，包括IL、RL、GD、CD、PMD和PDL，都可以以z高的动态范围和可用的精度进行提取。

其结果是实现了极其快速、高分辨率和精确的器件表征，是硅光子学和其他集成光子学器件的理想选择。

高分辨率“零死区”反射计

OVA 5000还可以作为具有光学频域反射计（OFDR）选项的高分辨率反射计进行操作。具有OFDR选项的OVA 5000可提供20μm采样分辨率、“零死区”和高灵敏度（>95 dB）的反射计测量。使用此选项，您可以轻松

“向内看”微型光子器件，并在波导内通常发生的规模上区分反射事件和杂质。

完全偏振分析

通过可选的偏振分析软件插件，OVA 5000可以测量、计算和显示光学组件对模拟输入偏振态的响应，从而消除了偏振对准的繁琐和困难任务。该软件显示插入损耗、群延迟和对用户定义的输入极化状态的脉冲响应。易于使用的滑块允许用户将模拟输入偏振调整到任何所需状态。anlaysis软件还绘制了偏振主态（PSP）的Min. 和Max. 插入损耗、群延迟和色散，以及偏振平均量（IL、GD、CD等），

PMD、PDL、Jones矩阵元素和时域信息。

使用单一仪器进行quan面表征

OVA 5000是业界重要一款通过单次连接和单次高速测量扫描测量光学组件完整光谱和时间延迟响应的仪器。OVA 5000简化了测试设置，缩短了测试时间

通过将多个光学仪器和组件的功能集成到单个仪器中。

用单个OVA 5000替换所有这些仪器。

型号说明